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    SEM掃描電鏡,臺式掃 描電子顯微鏡

    SEM掃描電鏡,臺式掃 描電子顯微鏡

    簡要描述:

    SEM掃描電鏡,臺式掃 描電子顯微鏡利用細聚焦電子束在樣品表面逐點掃描,與樣品相互作用產行各種物理信號,這些信號經檢測器接收、放大并轉換成調制信號,最后在熒光屏上顯示反映樣品表面 各種特征的圖像。

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    SEM掃描電鏡,臺式掃 描電子顯微鏡簡介
        掃描電子顯微鏡利用細聚焦電子束在樣品表面逐點掃描,與樣品相互作用產行各種物理信號,這些信號經檢測器接收、放大并轉換成調制信號,最后在熒光屏上顯示反映樣品表面 各種特征的圖像。掃描電鏡具有景深大、圖像立體感強、放大倍數范圍大、連續可調、分辨 率高、樣品室空間大且樣品制備簡單等特點,是進行樣品表面研究的有效分析工具。
        目前, 掃描電子顯微鏡已被廣泛應用于生命科學(主要用來觀察生物體,微生物,組織器官等)、物理學、化學、電子(在電子學研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、LED、元器件、PCB板及MEMS器件等的形態或缺陷)、地球科學、材料學(在材料研究、地質、半導體和微電子、汽車、航空航天等相關行業的研究和生產中,掃描電鏡發揮著巨大的作用)以及工業生產等領域的微觀研究, 僅在地球科學方面就包括了結晶學、礦物學、礦床學、沉積學、地球化學、寶石學、微體古生物、天文地質、油氣地質、工程地質和構造地質等。 
    SEM掃描電鏡,臺式掃 描電子顯微鏡技術參數:
    放大倍數:60000x /150000x
    加速電壓:500V - 15kV
    電子源:預對中鎢燈絲
    聚光鏡:兩級電磁變焦聚光鏡
    樣品臺:X-Y兩軸自動樣品臺
    樣品臺移動范圍:30mm×30mm
    標準配置:
    背散射電子探測器
    二次電極探測器
    CCD光學導航
    SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡的特點:
    1.操作便捷:只需鼠標就可完成所有操作,不需對中光闌等復雜步驟,聚焦消像散后可直接拍圖。
    2.快速成像:掃描速度快,信號采集帶寬10M,可以在視頻模式下流暢實時的顯示樣品。
    3.性能穩定:一體式機身設計,非前后或上下連體,增強電鏡穩定性,降低故障率。
    4.節約空間:主機集成高壓及控制系統,體積小巧,便于移動。
    5.便于安裝:安裝無需特殊環境,只需找一張桌子,供電就可工作。

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